高低溫試驗(yàn)箱的應(yīng)用

    高低溫試驗(yàn)箱:適用于工業(yè)產(chǎn)品高溫、低溫的可靠性試驗(yàn)。對(duì)電子電工、汽車摩托、航空航天、船舶兵器、高等院校、科研單位等相關(guān)產(chǎn)品的零部件及材料在高溫、低溫(交變)循環(huán)變化的情況下，檢驗(yàn)其各項(xiàng)性能指標(biāo)。產(chǎn)品具有較寬的溫度控制范圍，其性能指標(biāo)均達(dá)到國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB10592-89高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件，適用于按GB2423.1、GB2423.2《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法，試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法》對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行低溫、高溫試驗(yàn)及恒定溫?zé)嵩囼?yàn)。

    超低濕試驗(yàn)箱，除了可仿真產(chǎn)品在一般氣候環(huán)境溫濕組合條件下(高低溫操作&儲(chǔ)存、溫度循環(huán)、高溫高濕、結(jié)露試驗(yàn))..等，去檢測(cè)產(chǎn)品本身的適應(yīng)能力與特性是否改變，以及針對(duì)產(chǎn)品在(低溫低濕、高溫低濕、高溫高濕降到低溫低濕..等)環(huán)境下是否會(huì)發(fā)生龜裂、破損，另外在低濕環(huán)境中的空氣靜電量是一般環(huán)境的30倍以上，據(jù)統(tǒng)計(jì)，半導(dǎo)體破壞率：59%是由靜電所引起的。

高低溫試驗(yàn)箱的標(biāo)準(zhǔn)

    ※ 需符合國(guó)際性規(guī)范之要求(IEC、JIS、GB、MIL…)以達(dá)到國(guó)際間量測(cè)程序一致性(含測(cè)試步驟、條件、方法)避免認(rèn)知不同，并縮小量測(cè)不確定的因素范圍發(fā)生。 

    產(chǎn)品符合GB2423.1、GB2423.2、GJB150.3、GJB150.4、IEC、MIL標(biāo)準(zhǔn)。高低溫試驗(yàn)箱與高低溫交變?cè)囼?yàn)箱的區(qū)別主要在于控制部分，高低溫試驗(yàn)箱的控制部分主要是通過(guò)數(shù)顯儀表控制的，而高低溫交變?cè)囼?yàn)箱是通過(guò)可編程控制器控制的，數(shù)顯儀表一般都為手動(dòng)控制，能執(zhí)行的命令一般為單次，而可編程控制器則是全自動(dòng)控制的，可以預(yù)先把要設(shè)置的參數(shù)以及試驗(yàn)的次數(shù)設(shè)置進(jìn)去，然后按照所設(shè)置的程序工作。